技術資料

当試験は、スイッチングトランジェント(誘導性負荷の遮断や、リレーの接点バウンス等)より発生するもの等様々なトランジェント妨害を被った際の電気電子機器のイミュニティを証明することを意図としている。続きを読む

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電気自動車のEMC試験

電気自動車の導入により、自動車の設計者や試験エンジニアにとって、追加されたEMC規格の要求などの多くのEMCに関する課題が出てきた。このテクニカルノートは、この重要なトピックに関する見識とベストプラクティスを記述する。当文書は、

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バーストとサージ規格の変更点

バーストとサージの試験規格(IEC 61000-4-4、IEC 61000-4-5)には、過去20年間で著しい変更がありました。

この間、弊社の設計・エンジニアリングチームは、国際的なEMC規格グループのメンバーとして参加し、導入された変更について助言を行ってきました。

バーストとサージの要求に対する多くの重要な変更と、試験結果に対する影響の可能性について論じたテクニカルノートを発行しました。また、このテクニカルノートでは、新しい規格の試験結果を古い規格に準拠した試験結果と比較することができない理由についての考察も行っています。

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電圧オフセット試験

電圧オフセット試験は、国際規格及びメーカ規格により電気自動車の高電圧部品への実施が要求されるEMC試験の一部です。

高電圧部品とシャーシの間には電圧が発生します。試験中にオフセット電圧がどの様に変化しても、EUT供給電圧を一定に保つことが課題です。（例：遅い/早い電圧変化、三角形状の電圧変化など）

電圧オフセット試験やセットアップのより詳細な情報をご覧になるには、AMETEKのテクニカルノートをダウンロードしてください。この資料では、2つの好ましい試験方法と必要な試験装置をご紹介しています。

EVリップルのイミュニティ試験のテクニカルノートの入手

弊社の最新のテクニカルノートでは、リップルの原因と危険性、試験装置に対する要求事項、規格要求事項、AMETEK CTSによるソリューションについて解説しています。

リップルとは、直流電源に重畳する妨害信号のことです。このリップルは、例として、半導体部品の周期的なスイッチング動作から発生します。電気自動車では、電気駆動システム、特にインバータ部分が、リップル妨害の最大の潜在的発生源となります。

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サージ波形の検証(基礎編)

サージはスイッチングや雷の過渡現象の過電圧により引き起こされる。IEC 61000-4-5は自然現象や様々な機器構成から引き起こされるイミュニティを評価することを意図とした試験について記述している。

産業電子機器の最も多い損傷の原因は、機器自体のスイッチングまたは雷の様な大気中放電による過電圧である。本資料では、典型的に300メートルを超えるケーブル長さまたは数キロメートルにも及ぶ様な屋外の電気通信ネットワークに直接接続することを意図した対称通信線(例：公衆交換電話網)に関しては言及しない。本資料は、単相のAC/DCの電源線のサージ波形の校正に限定し言及する。

 

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IEC 61000-4-11 AC電源変動試験

電気電子機器は、電源の電圧ディップ、瞬断、電圧変動などの影響を受ける可能性がある。

電圧ディップと瞬断は、電力系統のネットワークや設備内の障害や、大きな負荷の急激な変化により発生する。

場合によっては、2回以上連続してのディップや停電が起こり得る。電圧変動は、ネットワークに接続された負荷が連続的に変化することにより発生する。

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